Microscopie à balayage MEB

Microscopie à balayage MEB

Microscope électronique à balayage JEOL 6060 LV basé au CICS
Haute tension max. : 30 KV
Résolution : 6 nm
Grandissement : 20 à 160 000

Platine Peltier - 25 °C + 50°C